CV 漏れ補正状態の測定の最後は、4 次 LPF などで全ステージが直結される構成、つまり、 (ステージ 1) → (ステージ 2) → (ステージ 3) → (ステージ 4) となる場合の測定です。

今回は、ゲインセル 2 段を直結したものが 2 組 、つまり、 (ステージ 1) → (ステージ 2) (ステージ 3) → (ステージ 4) となる構成での測定です。 下に CEM3320/V3320 側の回路を示します。 ステージ間の接続を主に表現しており、電源まわりや CV まわりは省…

CEM3320 / V3320 のマイナス電源側の回路は少し特殊な形となっていて、いわゆる「CV 漏れ」(CV feed through) 補正量の調整の機能も兼ねています。 電源まわり (プラス電源ピン、グラウンド・ピン、マイナス電源ピン) の回路を下に示します。

spice のバイポーラトランジスタ・モデルでアーリー (Early) 効果を取り込むためのモデル・パラメタとして「VAF」(順方向アーリー電圧) があります。 トランジスタの出力コンダクタンスは VAF によりほぼ決定されるので、回路に対する出力コンダクタンスの影…

データシート記載の状態変数型 2 次フィルタ回路の LTspice 記述を下に示します。

データシート記載の 2 次状態変数型フィルタの回路図を書き直したものを下に示します。 (図をクリックすると拡大します。)